SNJ54ABT8646FK
SNJ54ABT8646FK
SNJ54ABT8646FK
Référence :
SNJ54ABT8646FK
Catégorie :
-
Fabricant :
Description :
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Boîtier :
Conditionnement :
Tube
Quantité :
0
Statut RoHS :
Pris en charge
Partager :
Stock
Quantité min. : 0
Qté
Prix
Total
Statut de la pièce
Active
Type de montage
Surface Mount
Température de fonctionnement
-55°C ~ 125°C
Nombre de bits
8
Tension d'alimentation
4.5V ~ 5.5V
Type de logique
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Boîtier
28-CLCC
Fournisseur Dispositif Emballage
28-LCCC (11.43x11.43)
Derniers produits
V62/04730-01XE
Texas Instruments
IC ABT SCN TST DEV 9BIT 64TSSOP
M38510/07801BJA
Texas Instruments
IC ARITH LOGIC UNIT 4BIT 24CDIP
SNJ54BCT8245AJT
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
JM38510/34201BEA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
JM38510/31202BEA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
SN54LS283J
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
JM38510/34201BFA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16-CFP
SNJ54BCT8244AJT
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP