0755-82564498
[email protected]
Russian
中文
English
Japenese
Russian
French
Arabic
Korean
Spanish
Kazakh
Главная страница
Классификация продуктов
Марка
Запрос цены
Общественная информация
О нас
О нас
Свяжитесь с нами
Свяжитесь с нами
Главная страница
Классификация продуктов
Марка
Запрос цены
Общественная информация
О нас
Свяжитесь с нами
Russian
中文
English
Japenese
Russian
French
Arabic
Korean
Spanish
Kazakh
Главная
Список товаров
SNJ54ABT8646FK
Номер детали:
SNJ54ABT8646FK
Категория:
-
Производитель:
Texas Instruments
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Корпус:
Упаковка:
Tube
Количество:
0
Статус RoHS:
Поддерживается
Поделиться:
PDF:
SNJ54ABT8646FK
Запрос цены
Запас
Мин. заказ: 0
Кол-во
Цена
Итого
Параметры продукта
Статус детали
Active
Тип монтажа
Surface Mount
Рабочая температура
-55°C ~ 125°C
Количество битов
8
Напряжение питания
4.5V ~ 5.5V
Логический тип
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Корпус
28-CLCC
Поставщик Устройство Корпус
28-LCCC (11.43x11.43)
Новейшие продукты
V62/04730-01XE
Texas Instruments
IC ABT SCN TST DEV 9BIT 64TSSOP
Подробнее
M38510/07801BJA
Texas Instruments
IC ARITH LOGIC UNIT 4BIT 24CDIP
Подробнее
SNJ54BCT8245AJT
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
Подробнее
JM38510/34201BEA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
Подробнее
JM38510/31202BEA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
Подробнее
SN54LS283J
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16CDIP
Подробнее
SNJ54ABT8646FK
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Подробнее
JM38510/34201BFA
Texas Instruments
IC BINARY FULL ADDER 4BIT 16-CFP
Подробнее
[email protected]
+86-755-82564498
Chat with us
, powered by
LiveChat